智能膜厚测量仪报价_哪里有膜厚测量仪销售_上海昊量光电设备有限公司

膜厚测量仪（厚度范围1nm~1.8mm）

MPROBE - MAKING THIN FILMS THICKNESS MEASUREMENT EASY

美国Semisonsoft公司MProbe系列薄膜测厚仪测量厚度可以低至1nm，厚至1.8mm，埃级分辨率，非接触式无损快速测量。广泛应用在各种生产或研究中，比如测量薄膜太阳能电池的CIGS层，智能膜厚测量仪报价_哪里有膜厚测量仪代理_上海昊量光电设备有限公司，触摸屏中的ITO层等。大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。

测量原理：当*波长范围的光照射到薄膜上时，从不同界面上反射的光相位不同，从而引起干涉导致强度相长或相消。而这种强度的振荡是与薄膜的结构相关的。通过对这种振荡拟合和傅里叶变换就可获得样品厚度和相关的光学常数。

比如：

半导体（硅，单晶硅，多晶硅）

半导体化合物（AlGaAs, InGaAs，CdTe, CIGS）

微电子机械（MEMS）

氧化物/氮化物

光刻胶

硬涂层（碳化硅，类金刚石炭）

聚合物涂层（聚对二甲苯，聚甲基丙烯酸甲酯，聚酰胺）

高分子聚合物

MProbe膜厚测量仪操作简单，只需一键操作即可获得样品的厚度、折射率（n, k）和表面粗糙度等信息，膜厚测量设备可支持不同光谱范围，光谱范围可达200-1700nm，因此可测量厚度范围可从1nm到2mm。 设备中无移动组件，所以测量结果几乎是即时得到的；TFCompanion测量软件使得测量过程非常简单且透明，测量历史、动态测量、模拟、颜色分析、直接在样品图像上显示结果。

分类：

1、单点膜厚测量——MPROBE-20

2、单点手持膜厚测量——MPROBE HC

3、聚焦光斑膜厚测量仪——MPROBE 40

4、原位测量膜厚测量仪——MPROBE 50 INSITU

5、支持Mapping的聚焦膜厚测量仪——MPROBE 60

6、在线膜厚测量仪——MProbe 70

美国Semisonsoft公司MProbe系列薄膜测厚仪测量厚度可以低至1nm，厚至1.8mm，埃级分辨率，非接触式无损快速测量。广泛应用在各种生产或研究中，比如测量薄膜太阳能电池的CIGS层，智能膜厚测量仪报价_膜厚测量仪供应商_上海昊量光电设备有限公司，触摸屏中的ITO层等。大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。膜厚测量仪（厚度范围1nm~1.8mm） 上海昊量光电设备有限公司是一家着力于研究其他光学仪器的公司， 经过多年的坚持不懈与努力，公司在业内也算是有属于自己的一片天。 公司多年来一直坚持为客户提供*、快捷、周到的服务，愿与业内同仁共同致力于行业的进步。 公司主营产品有:膜厚测量仪，我们在这里等待您的到来！ 膜厚测量仪（厚度范围1nm~1.8mm），高性价比膜厚测量仪，详情请咨询上海昊量光电设备有限公司。 9/15/2014，2014年，随着千瓦高功率光纤激光器市场需求的快速增长，作为国内半导体激光器核心供应商,凯普林光电推出了百瓦级半导体激光器，为高功率的光纤激光器提供更多解决方案。　　凯普林光电新推出9XXnm/150W高亮度光纤耦合半导体激光器。该产品基于凯普林光电多年成熟的多单管光纤耦合技术，运用空间合束及偏振合束技术，实现105μm/0.22N.A.多模光纤耦合输出，输出功率达到150W，***的提高了出纤激光束的亮度；同时，应用同样技术，也实现了105μm/0.15N.A.的光纤耦合，输出功率达到120W。两款产品的电光转换效率均大于48﹪，有效的实现了电光能量的转换，为客户节约成本，更好的满足高功率光纤激光器泵浦源的使用要求，同时可应用于材料加工和处理等工业领域。　　该产品采用全新的封装形式，优化的光路设计节约了组件的内部空间，实现了小型化封装，易于系统集成，方便用户使用